空间辐射是威胁航天器在轨稳定运行的核心因素，星载固态存储器作为卫星数据记录、缓存与管理的核心部组件，其辐射环境适应性直接决定在轨数据存储的安全性与稳定性。针对复杂空间辐射工况，天硕（TOPSSD）联合多家具备资质的专业试验机构，对旗下航天级星载固态存储器开展总剂量、重离子、质子等多维度辐射效应试验，全面验证产品空间适配能力，为航天工程应用提供扎实的数据支撑。

　　随着遥感探测、在轨计算、高通量载荷技术快速发展，航天器在轨数据体量持续激增，星载固态存储器的可靠性标准持续升级。本次测试的天硕X55 M.2 NVMe星载固态存储器，搭载自研主控与专属固件，搭建多层故障检测与自主恢复机制，支持PCIe高速接口，拥有多形态产品布局，最大容量可达8TB，广泛适配各类卫星在轨数据处理场景。所有试验严格遵循548C、QJ 10004-2008等国家及航天行业规范，贴合真实太空辐射工况设计测试方案，试验结果具备极高的工程参考价值。

　　重离子单粒子效应试验针对太空高能粒子突发冲击风险，采用1300MeV高能氪离子开展辐照测试，试验有效LET值达38.1MeV·cm?/mg，覆盖太空绝大多数重离子能量沉积场景。测试全程实时监测设备工作电流、数据读写状态及异常恢复能力，重点排查危害性极高的单粒子闩锁现象。试验全程未观测到电流闩锁、器件烧毁等灾难性故障，出现的功能扰动均可实现无人干预自主恢复，充分验证了产品优异的抗极端单粒子干扰能力和自主容错机制。

　　系列辐照试验充分证实，天硕X55星载固态存储器在累积辐射耐受、抗单粒子闩锁、故障自主恢复三大核心维度，完全满足低轨卫星长期在轨任务需求。依托自研软硬件架构，产品构建起完善的空间辐射容错体系，可有效应对太空复杂辐射工况。目前，天硕仍在持续推进更高等级辐照验证，不断突破产品性能边界，为各类高可靠、长寿命航天任务提供安全稳定的数据存储解决方案。